НЕФТЬ-ГАЗ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

Теперь на нашем сайте можно за 5 минут создать свежий реферат или доклад

Скачать книгу целиком можно на сайте: www.nglib.ru.

<< Структурный анализ <<

ПорайКошиц М.А. Основы структурного анализа химических соединений 1982

Скачать книгу здесь
Автор: ПорайКошиц М.А.
Название: Основы структурного анализа химических соединений 1982
Год издания: 1982
УДК: 543
Число страниц: 152
Содержание книги:
Предисловие
Глава I. Основные понятия и элементы структурной кристаллографии
А. Описание решетки кристалла
§ 1. Группа трансляций — решетка кристалла
§ 2. Индексы узлов, узловых рядов и узловых сеток решетки кристалла
§ 3. Обратная решетка
Б. Пространственные группы симметрии
§ 4. Обозначения элементов симметрии конечных фигур, принятые в структурной кристаллографии
§ 5. Закрытые и открытые операции симметрии
§ 6. Точечные и пространственные группы симметрии .. 20 § 7. Взаимодействие трансляций и других операций симметрии
§ 8. Классификационная схема . пространственных групп симметрии
§ 9. Классы симметрии, сингонии и категории
§ 10. Координатные системы и метрика решеток
§ 11. Типы решеток Бравэ
§ 12. Графическое изображение пространственных групп симметрии
§ 14. Правильные системы точек
Глава II. Дифракция рентгеновских лучей в кристалле
§ 1. Физическая основа рентгеноструктурного анализа .. 46 § 2. Параметры рентгеновских волн; рассеяние рентгеновских лучей
§ 3. Задачи, решаемые в ходе рентгеноструктурного анализа кристалла
§ 4. Условия Лауэ
§ 5. Методы получения дифракционного эффекта
§ 6. Другие способы представления дифракционного эффекта. Индицирование рентгенограмм
§ 7. Фотографическая и дифрактометрическая аппаратура
§ 8. Автоматизация рентгеноструктурного эксперимента 62 § 9. Методы ускорения дифрактометрического эксперимента
§ 10. История развития методики и техники структурных исследований кристаллов
Глава III. Первый этап анализа структуры. Определение параметров решетки и симметрии кристалла
§ 1. Параметры решетки и число формульных единиц в ячейке
§ 2. Симметрия кристалла
Глава IV. Второй этап анализа структуры. Определение координат атомов в элементарной ячейке кристалла
§ 1. Учет факторов, влияющих на интенсивность дифракционных лучей
§ 2. Структурная амплитуда и координаты атомов
§ 3. Структурные амплитуды и распределение электронной плотности по ячейке
§ 4. Учет симметрии в формулах структурной амплитуды и электронной плотности
§ 5. Проблема начальных фаз
§ 6. Общая схема второго этапа анализа структуры
§ 7. Метод межатомной функции
§ 9. Метод минимизации структурного функционала
§ 10. Уточнение координатных и других параметров структуры
§ 11. Обработка результатов исследования
§ 12. Автоматизация рентгеноструктурных расчетов
Глава V. Сравнительные возможности и перспективы дифракционных методов исследования
§ 1. Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа, нейтронографии и электронографии кристаллов
§ 2. Сравнительные возможности дифракционных методов изучения структуры кристаллов и веществ в других агрегатных состояниях
§ 3. Основные задачи рентгеноструктурного анализа в химии
§ 4. Новые задачи рентгеноструктурного анализа в физической химии
Приложение
Глоссарий:
а б в г д е ж з и к л м н о п р с т у ф х ц ч ш э я
Смотреть страницы:
2 3 18 32 46 60 74 88 102 116 130 144 151 152
Полнотекстовый поиск по книге:
Введите слово или фразу для поиска:
Близкие по содержанию книги:
Основы структурного анализа химических соединений 1989
Химическая технология >> Аналитическая химия >> Структурный анализ
Рентгенография в неорганической химии
Химическая технология >> Общая и неорганическая химия >> Прочее
Введение в физику твердого тела
Физика >> Строение материи

Просмотреть оригинальные страницы книг в формате djvu можно на сайте: www.nglib.ru.


Главный редактор проекта: Мавлютов Р.Р.
oglib@mail.ru